您的位置:主页 > 成功案例 > 斯伦贝谢软件使用技巧 > Techlog操作技巧 >

成功案例

Techlog操作技巧>>

102.如何对FMI电成像数据进行分段刻度

FMI电成像测量的是相对电导率,在计算裂缝参数和进行次生孔隙等评价之前需要用浅探测电阻率对电成像进行刻度。电成像图像刻度的好坏会影响到裂缝参数计算和次生孔隙评价结果的准确性,为了更好地进行电成像图像刻度,下面介绍一种对FMI电成像数据进行分段刻度的流程。

如下图,在进行FMI电成像图像刻度时发现,一口井中Calibration curve和Smoothed image mean曲线交会图呈现两条明显的趋势线,上部和下部井段差异明显,在这种情况下,我们要分段对FMI图像进行刻度,那如何实现呢?

(1)首先创建一个zonation,根据两段的深度将整个深度段分为上下两段。

(2)打开Image calibration 工作流,选择正确的数据,这里我们用的是浅侧向电阻率LLS,然后把zonenation选项卡中,将zonenation分段数据导入。

(3)在Parameter选项卡中将‘Apply mode’设置为‘edit calibration’,将‘Calibration Type’设置为‘Conductive w. Resistivity’。

(4)点击自动更新按钮(旋转箭头按钮),编辑两个层段交会图的趋势线,使‘CalibratedSmoothedMean_IMGCAL‘ 与 ’CalibrationCurve_IMGCAL‘曲线接近重合(第六道)。

(5)点击F4,在output中给定group的名字,在Parameter选项卡中将‘Apply mode‘ 改为 ’apply calibration‘, 然后选择save并运行,刻度后的极板图像数据和其他相关数据则会保存在给定的group之下了。

地址:北京市朝阳区酒仙桥路14号兆维华灯大厦

邮编:100015 传真:010-64309502

Copyright © 2002-2022 斯伦贝谢科技服务(北京)有限公司  京ICP备 06043577 号-1