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成功案例
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- 98．油基泥浆电成像OBMI仪器与应用简介
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- 77．水平井Thrubit FMI（过钻头电成像测井）处理流程
- 76．利用Variables splice tool对多段FMI电成像测井数据进行合并
- 75．Techlog 2019 解释结论及录井、岩性显示
- 74．利用地层倾角计算地层真厚度
- 73．测井曲线分层段取平均值制作交会图流程
- 72．利用直井的时深对关系校正水平井轨迹
- 71．Techlog中XY与经纬度转换技巧
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- 69．Techlog 地质力学插件Sand management使用技巧
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- 57．Techlog中如何拼接声波的波形及投影数据
- 56．Well predict井眼预测
- 55．测井曲线合并
- 54．核磁共振T2谱长噪音信号消除方法
- 53．沿井斜轨迹显示测井解释剖面
- 52．Techlog实用技巧-缺失曲线重构
- 51．Well predict井眼预测
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- 30．Formation Testing Suite 地层测试高级分析及应用（一）
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- 8．Techlog界面用户配置流程
- 7．中文字符加载及岩芯对应的测井读值
- 6．利用Pickett Plot确定饱和度参数
- 5．Techlog中如何加载井位坐标
- 4．如何新建工区并激活许可
- 3．如何加载注释或者测试数据
- 2．如何加载中文字符的文件
- 1．多线性拟合重构曲线
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59．成像测井斑块状图像定量分析技术Techlog软件提供了完整的井眼成像测井解释工作流程，包括井眼成像处理解释（Wellbore Imaging）和成像测井高级处理及解释（Advanced Borehole Geology Suite）两大模块，可以对各类声电成像测井数据进行处理、解释与地质应用。
其中斑块状图像分析（Patch Size Analysis）是最新版本井眼成像处理解释模块的一项新功能，用于对砾岩与孔洞型碳酸盐岩地层条件下测量到的斑块状图像进行分析，计算各斑块的平均面积、长轴长度、圆度和球形度，并可根据砾岩地层斑块长轴方位分析古水流方向。
斑块状图像分析（Patch Size Analysis）实例及解释原理示意图
启动方式
• 点击Wbi模块→AWI explorer→Patch size analysis
• 或Wbi模块→Python explorer→Patch size analysis
输入
斑块图像分析（Patch Size Analysis）的输入为PoroTex或Vug Density analysis子模块输出的非均质性图像（Heterogeneity image）以及井径曲线。
斑块状图像分析输入数据（左图：电成像数据，右图：声成像数据）
控制参数
Heterogeneity_Type：非均质性类型，进行孔洞尺寸分析（vug analysis）是的隐含值为Conductivity。在砾岩环境下进行斑块尺寸分析可以改为 Resistivity。
Resistivity coefficient：电阻率系数，隐含值为1。在大多数情况下，高阻斑块状图像比它实际的图像要小一些，因此该参数可以改为1.02。而高导斑块状图像比它实际的图像要大一些，因此该参数可以改为0.98。
Length Threshold：长度门槛值，隐含值为0.0635 m (2.5 in) 。该参数用于控制是否计算斑块状图像的长轴方向产状。
Axis ratio：长短轴长度比值门槛值，隐含值为5。只有但长轴长度大于门槛值以及长短轴长度比值大于该门槛值时，才计算斑块状图像的长轴方向角度。
斑块状图像分析参数选择窗口
Window Size：统计窗口高度，隐含值为0.5米。
输出参数及成果图
斑块图像分析（Patch Size Analysis）输出参数包括斑块状图像面积（Area）、长轴长度（LongAxis）、平滑之后的斑块状图像（Patch_Image）、圆度（Roundness）和球度（Sphericity）等信息，除外还计算长轴的长状信息，并存在一个单独的数据集之中。根据砾岩地层斑块长轴方位分析古水流方向。斑块图像分析的输出参数及成果图实例见下图。
斑块状图像分析输出参数及成果图实例